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更新時間：2025-02-13 
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高穩定雙光路型激光干涉傳感器
●應用東京精密的核心技術之一的光纖激光干涉測長系統，開發出分辨率0.31nm的高穩定雙光路型激光干涉傳感器并搭載在產品上。
●動態量程與分辨率之比高達42,000,000 ：1，一次跟蹤即可評價大范圍的輪廓形狀及其隱藏在形狀下面的微細表面形狀，是一款劃時代的產品。
在驅動部搭載線性馬達在日本已取得**
憑借線性馬達驅動,實現了高精度·高速移動
電子低振動化穩定,可以實現高倍率測定。
只需一次測量即可進行粗糙度和輪廓的分析
●可在保持高精度的同時提高測量效率。
大量程
橫向200mm,縱向13mm,測量范圍大。
可士45°自動控制驅動部傾斜
(SURFCOM CREST-T型號)
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GF-603AWP最小稱重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可讀性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止損壞重量傳感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小穩重120mg精密天平 GF-324A雙向 USB 接口日本AND高級精密分析天平服務與支持
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