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更新時間：2025-03-01 
瀏覽次數：181專用于電子元件
高速檢查
小型電子元件粗略泄漏測試系統
SMD 晶體器件越來越小。 LZ-3000 系列是為滿足密封 SMD 晶體器件和其他小型電子元件的粗略泄漏檢測的高速處理要求而開發的自動泄漏檢測系統。 我們提供很好的系統來改進質量控制系統，以提高客戶的生產效率。
| 壓力范圍 | ?100 kPa ~ 500 kPa |
|---|---|
| 最小可檢測泄漏量 | 1.17 × 10-6 帕米3/秒 |
| 電源電壓 | 三相 380 V 或三相 200 V，50/60 Hz，1.5 kW |
| 環境溫度 | 工作溫度：5 ~ 40°C |
| 外形尺寸 | W1250 × D850 × H1450（Max1890） |
每分鐘 60 件的高速工件加工
使用“兩部分分度法"的加工能力高達 60 件的系統，
可實現工件的全自動運輸和對中檢查、質量判斷或故障判斷以及工件的分揀和收集。
可進行 2.0 mm × 1.6 mm 尺寸的檢查。
我們新開發的超微量檢測差壓空氣泄漏測試儀可進行 2.0 mm × 1.6 mm 的超小尺寸粗略泄漏檢測
選擇
兼容多種類型的類似工件
工件供出料（在線通信/職業雜志通信）
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GF-603AWP最小稱重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可讀性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止損壞重量傳感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小穩重120mg精密天平 GF-324A雙向 USB 接口日本AND高級精密分析天平服務與支持
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